1 トピック by 一夜城

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トピック: memtest86+の結果より（メモリー温度特性）

経過：
2013年４月末始動の自作PCです．昨年末より急にブルースクリーンが非定常的に頻出するようになりました．当初はWindows 7 Pro 64bitが壊れたのかと思い復元等を何度も行いましたが、どうしても収まりません．そこでシステム修復ディスクのメモリ検査を実行させますと（日をおいて３回実施）、毎回２１％行った所でハングアップしました．メモリ（Corsair VENGEANCE 4GBx2 DDR3-1333）が怪しいと目途を付け、memtest86+ 5.01版を入手し実行させました．
結果：
１．昼12時頃起動→最初のパス、起動５分程度でエラー検出（978個表示）．
２．その後実行継続し約６時間後６パス実行途中で中断させました．エラー表示は当初表示のままです．
３．これでメモリー故障がはっきりしたかと安心(?)しましたが、画面を写真保管したく思い、デジカメを準備し（数分後）
再度memtest86+を起動しました．
４．ところが何と、２パス目に入っても一向にエラーが出ません．→ESCで中断．
５．PCはここで一旦電源OFFにして、23時頃までの約５時間放置．
６．再度memtest86+を実行させると１．同様に直ぐにエラー表示．但しエラー個数4000以上をカウント．
考察：
・メモリの温度特性不良か？よくあるのは温度上昇で動作不良を生ずるものであるが、反対に温度が低くても不良となるのか？？
「結果４」時、メモリ温度は高くなっていたと思われる．その後23時までの約５時間、PC本体は奥の暖房の無い部屋に放置したので温度はかなり下がったと思われる．「結果１」実行時は、昨晩の寒さの後で（部屋は日当たり悪く寒い）時刻の割には結構低温だった．

当家、神奈川県小田原市郊外です．昨年末から確かに寒さが厳しくなりましたが、全国的に見れば大したことはなく、むしろ暖かい地域です．時たま屋外の水溜まりに氷がはる程度です．

質問：その程度の低温でメモリが動作不良を起こすとは私の常識では考えられません．皆さんの体験やお考えをお寄せ頂きたく投稿しました．
（必要あればPCの詳細データを書きます）．

2 投稿 by web404

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Re: memtest86+の結果より（メモリー温度特性）

どんな材料にも電気特性の温度依存性はあるので、
製品として機能する温度範囲はメーカーから指定されています。
http://www.micron.com/products/dram-modules/udimm
メモリメーカーからスペックシートを引っ張ってきましたが、
一般的なPC用メモリの動作保証温度下限は0℃のようです。

ハードディスク等の機械的動作部位がある製品では、低温時の動作不良はよくある話です。
ハードディスクほど厳しくはないにしろ、
メモリでも低温時に不具合発生率が高まっても何ら不思議ではありません。

パソコン内では電気信号をデジタルデータとして処理していますが、
最終的な電子のやりとりはアナログなものです。
20℃付近でなんとか動作しているメモリが、
0℃付近で動作不良に至ってもおかしくはないでしょう。
そのほうが、製品として機能するのにシビアな環境だからです。

つまり、健全なメモリなら0℃でも動作するかもしれないけど、
動作の怪しいメモリでは不具合が発生するかもしれないよ、
ということです。


あと、メモリのエラーは、
メモリの挿し直しや、端子部のクリーニングで復旧する場合もあります。
あまり期待せず、やってみる分にはいいかと。

3 投稿 by web404

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Re: memtest86+の結果より（メモリー温度特性）

昨日書いた内容で伝わるかどうか不安だったので、ちょっとだけ補足します。

一般に、金属は温度が下がるほど電気抵抗も低下します。
一方、メモリの主たる構成要素である半導体は、温度が下がるほど電気抵抗は上昇します。
電子が移動するメカニズムの違いによるものですね。

メーカーの設計通りに素子として働いてくれないと、製品としても機能しなくなります。
だから、低温時にメモリが動作不良を起こすというのはあり得る話だよなぁ、と思うわけです。

不謹慎ながら、興味深い話ではあります。

4 投稿 by 一夜城

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Re: memtest86+の結果より（メモリー温度特性）

管理人さん書き込みありがとうございます．
通常高温化での特性不良を心配して筐体内の換気やエアーフローをどうするかに頭を痛めることが多く、
低温時のことを思い煩うことはありませんでしたので、こんなことがあり得るのかと自信が無かったのですが
管理人さんの書き込みを読み、勇気づけられました．

その後時間を見つけてはmemtest86+で何回かに亘り検証を重ね、状況把握に努めました．
主な特徴：１．memtest86+走行始めは100%エラー発生．
２．同 走行1パス（約40分）すれば、それ以降はエラー発生は少なくなる．→温度が高くなるからか？
３．エラー発生アドレスと個数は毎回微妙に異なる → 特定箇所のパンクでは無い．特性不安定の証か？
４．エラー発生ビットは最上位デジットに限り、x'1' or x'4'のみ表示 → 同部分の制御系パーツの不安定が主因か？
因みにメモリは：Corsair DDR3-1866 4GBx2 (CMZ8GX3M2A1866C9) です．

不具合報告書をまとめながら、購入先であるAmazon.co.jpに保証関係の問合せをしたところ、一旦はリンクス社を指示されたものの
実はリンクス社扱い製品ではないと判り、それではどこが保証引受人となるのか等々と云ったやりとりにここ数日時間をとられ、
本欄への応答が遅くなりました．

5 投稿 by web404

  • web404
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Re: memtest86+の結果より（メモリー温度特性）

返信必須じゃないのでテキトーでいいです（笑）


私は経歴がちょっと特殊で、元々は電子部品メーカーの技術職でした。
だから、「電子機器は低温なら大丈夫」とは言えないことを経験上知っていたんです。

もっとも、一夜城さんがおっしゃるように、
高温が引き起こす問題のほうが、頻度・深刻度共に大きいでしょうけどね。
高温による不具合は、変質を伴う不可逆なものが多いですから。
最悪、即死亡とか。


通販は便利ですが、保証に関しては逆にコスト（手間）がかかりますよね。
そのメーカーについて私はよく知りませんが、
国内メーカーなら即新品交換でご対応いただける事例かと思います。